mcu中的调试接口是什么？

在MCU（微控制器单元）中，调试接口是用于连接开发工具（如调试器、编程器）与目标芯片的硬件接口，允许开发者进行程序烧录、在线调试（如设置断点、单步执行、查看寄存器/内存等）。以下是常见的MCU调试接口及其特点：

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1. JTAG (Joint Test Action Group)

• 特点：
  • 标准化接口（IEEE 1149.1），支持广泛的MCU。
  • 通过多根线（TCK、TMS、TDI、TDO、nTRST等）实现全功能调试，可访问所有内核寄存器和内存。
  • 支持边界扫描测试（测试PCB连接性）。
• 典型应用：复杂MCU（如ARM Cortex-M系列）、FPGA调试。
• 缺点：引脚占用较多（通常需4-5根线），速度较慢。

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2. SWD (Serial Wire Debug)

• 特点：
  • ARM开发的简化调试接口，仅需2根线（SWDIO、SWCLK）。
  • 兼容JTAG功能，但引脚更少，适合引脚受限的MCU。
  • 速度与JTAG相当，但布线更简单。
• 典型应用：ARM Cortex-M系列（如STM32、GD32等）。
• 缺点：功能略弱于JTAG（如不支持边界扫描）。

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